I-Microscopie à force atomique (AFM) : Principe, Les forces mises en jeu, le capteur du microscope à force atomique, instrumentation, les modes d’imagerie, mode contact et sous-modes, modes résonants et sous mode tapping, peak force tapping, mesure de topographie et de caractéristiques mécaniques
II- Microscopie électronique à balayage (MEB): Principe de fonctionnement d'un MEB, l'électron dans un champ électrique et magnétique, principe du balayage, résolution, effet thermique et effet de charge au niveau de l'échantillon, application à la lithographie électronique.
III- Applications
Travaux Pratiques
I-Microscopie à force atomique : mode contact - topographie
II- Microscopie à force atomique : mode tapping
III- Microscopie à force atomique : mesure de caractéristiques mécaniques
IV- Microscopie Électronique à Balayage
- Enseignant: Falgayrettes Pascal